[科普中國(guó)]-野外地層產(chǎn)狀測(cè)量

野外地層產(chǎn)狀測(cè)量指測(cè)量地層的空間位置要素，包括走向、傾向、傾角及厚度。

地層產(chǎn)狀測(cè)量技術(shù)要求主要有：（1）測(cè)量密度要滿足準(zhǔn)確計(jì)算地層厚度、控制構(gòu)造形態(tài)和制作構(gòu)造橫剖面圖的需要。（2）測(cè)得的數(shù)據(jù)可靠。測(cè)量之前應(yīng)仔細(xì)觀察和追索，尋找成層標(biāo)志，保證測(cè)定的露頭一定是基巖的層理面，且應(yīng)判斷層序是否正常。注意區(qū)分三角洲相沉積巖中的大型斜層理，厚層塊狀碳酸鹽巖的節(jié)理風(fēng)化面，變質(zhì)巖中的片理和劈理面，非構(gòu)造因素引起的局部產(chǎn)狀變化等。（3）測(cè)得的數(shù)據(jù)有代表性。測(cè)定的層理面，在較大范圍內(nèi)產(chǎn)狀比較穩(wěn)定，與地層總體層理面一致，層理面比較平整，且避開(kāi)了小褶曲的影響。（4）測(cè)得的數(shù)據(jù)有系統(tǒng)性。產(chǎn)狀發(fā)生變化和構(gòu)造關(guān)鍵部位，都有產(chǎn)狀要素控制空間展布狀況和變化規(guī)律，如褶皺的兩翼、轉(zhuǎn)折端、傾沒(méi)端、軸線、不整合面的上下地層、斷層面兩盤(pán)的地層產(chǎn)狀等。（5）測(cè)量之前要校正羅盤(pán)的磁偏角，測(cè)量誤差應(yīng)小于2°。

地層產(chǎn)狀測(cè)量方法有地質(zhì)羅盤(pán)測(cè)定法、三點(diǎn)法和瞄準(zhǔn)法等。地質(zhì)羅盤(pán)測(cè)定法適用于傾角大于5°的地層；三點(diǎn)法適用于地層傾角很小或近似水平，用地質(zhì)羅盤(pán)難以測(cè)量時(shí)，用經(jīng)緯儀測(cè)量層面上三個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)及高程，通過(guò)計(jì)算求出產(chǎn)狀；瞄準(zhǔn)法讀數(shù)準(zhǔn)確性差，只適用于不能實(shí)測(cè)時(shí)用。

地層產(chǎn)狀的表示方法一般用0°到360°傾向方位角和傾角表示，如NW280°∠50°，表示地層傾向北西象限，傾斜方向280°，傾角50°。走向與傾向垂直可換算出走向。如果用走向表示，則為N10° E∠50°Nw，前半部為走向，后半部為傾角和傾向。產(chǎn)狀數(shù)據(jù)記錄在單層描述中，標(biāo)繪在平面圖及順手剖面圖上。1

本詞條內(nèi)容貢獻(xiàn)者為:

黃倫先 - 副教授 - 西南大學(xué)